該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強儀 以及凝聚粒子計數器 配套使用，且該分析儀工作流程已經被最優化，不但能夠將散逸損失降至 最低，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑 分辨率。
分析從1到50nm粒徑的顆粒物
SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關鍵組件
顆粒物粒徑測量
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